問:對于金屬外殼的DUT,在測試CEI和CEV的時候,接地和不接地這兩種case為什么結果有大差異,可以畫圖詳細解釋一下嗎?
答:思考清楚附圖的問題,你的疑惑估計就解決了。CEI和CEV本質都是測試線束上的噪聲電流值,接地與不接地改變的就是這個噪聲電流回路的阻抗大小,會很大程度上影響這個電流的大小,當然測試結果會有很大差異。
對于金屬外殼的DUT,在測試CEI和CEV的時候,接地和不接地這兩種case為什么結果有大差異
賽盛技術
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